电子元器件参数测试仪

ENJ2005-A/ENJ2005-B系统是专为测试半导体分立器件而设计。能够真实准确测试以下类型的半导体器件以及相关组合器件、器件阵列，测试种类如下：
1) 二极管                      DIODE  
2) 晶体管                      TRANSISTOR（NPN型/PNP型）
3) 稳压（齐纳）二极管          ZENER  
4) 结型场效应管                J-FET （N-沟/P-沟，耗尽型/增强型）
5) MOS场效应管                 POWER MOSFET（N-沟/P-沟）
6) 三端稳压器                  REGULATOR（正电压/负电压，固定/可变）
7) 光电耦合器                  OPTO-COUPLER（NPN型/PNP型）
8) 可控硅整流器（普通晶闸管）  SCR 
9) 双向可控硅 （双向晶闸管）   TRIAC
10) 绝缘栅双较大功率晶体管     IGBT（NPN型/PNP型）
11) 光电逻辑器件               OPTO-LOGIC
12) 双向触发二极管             DIAC
13) 固态过压保护器             SSOVP
14) 光电开关管                 OPTO-SWITCH
15) 硅触发开关                 STS
16) 继电器                     RELAY
17) 金属氧化物压变电阻         MOV
18) 压变电阻                   VARISTOR
19) 达林顿阵列                 DARLINTON
ENJ2005-A测试系统测试范围为1-12大项十七个分类。
ENJ2005-B测试系统测试范围为1-19大项二十七个分类。