半导体参数测试仪

ENJ2005-A/ENJ2005-B测试系统（以下简称系统）是西安易恩电气科技有限公司推出的半导体分立器件测试系统，该系统符合国**GJB128-86和国家标准GB/T 4587-94测试规范。
系统适合工厂、研究所用做元器件筛选、检验、分析以及器件生产厂用做生产测试。系统可扩展性强，通过选件可以提高电压、电流的测试能力和增加测试品种范围。测试自动快速，可以满足各种用户需要。故障率低，保证了用户的生产效率。使用简捷方便，在PC窗口提示下输入被测器件的测试参数即可完成填表编程，操作人员不需具备专业计算机编程语言知识。
系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证各种情况下测试结果的准确可靠。测试数据可直接保存为“.dat”和“.xls”格式。
系统面板的显示部分能够及时显示系统的各种工作状态和测试结果。
系统提供与机械手、探针台、电脑的连接接口，可以支持各种不同辅助设备（探针台、分选机）的相互连接使用。